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发表于 2013-6-24 09:52:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
杂牌21,烧行管,有时能用一天,有时能几天,不定时烧行管,求有快修经练师父相助,先谢谢了,

论坛管理员

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发表于 2013-6-24 14:09:46 | 显示全部楼层
请重点检查以下几点:①  +B电压是否一直稳定,尤其是+B电压可调电阻;②  各逆程电容的容量是否稳定;再有就是要检查线路板是否存在接触不良和打火的地方。
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高级技师

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 楼主| 发表于 2013-6-24 15:34:12 | 显示全部楼层
谢谢,我知到了,谢谢了,
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发表于 2013-6-25 09:56:04 | 显示全部楼层
彩电屡烧行管的原因分类 [复制链接]


1、  开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障,不能稳压,导致 B+电压上升。如果 B+电压超
过 10%以上,会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源允许的稳压值
范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
2、  二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升
高,而不是开机后直接跳为高电压。如果缓启动电容失容损坏,就会造成开机时
电压立即跳升,同时电压不稳,容易造成烧行管。
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
常。

3、  行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奁行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路,如果保护电路性能不佳,则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较,通过测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上烧坏行管,此时用手摸散
热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起行管过流击

穿。
4
、  行频过低
因为流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过行管所承受的
电流最大值时,使用行管烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
生,一般不会出现行频过低现象。

5、  行逆程时间过短
在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出
管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现行管换一只烧一只
的结果。此时,迅速用手摸行管的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
因为逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法:是将行逆程电容全部换新。
6、  行激励不足
如果行激励不足,行管不能迅速饱和,导致行管内阻变大,使用行扫描线*
变差;如果行激励不足,行管不能迅速地截止,使用行管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值,则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长,不防用示波器观察
激励级的波形,可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻
值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器初级烧组上的滤波电容
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
、  环境潮湿
7
这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,
或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),行管过热,使其耐压降低,最终
导致损坏行管。
、  行偏转线圈开路
8
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用行管在逆
程时间内也短暂导通,导致行管损坏。因此,维修时要特别小心,在行偏转线圈
及其回路开路的情况下,如果长时间通电检修,是极危险的。
9、  行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成行管因过流

而击穿。
此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,高
压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路故障等,也会造成行管过
流击穿。

10、  开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。
受附近大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致行管击穿。
11、  行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,行管,
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,行管,行包,逆
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造
成瞬间的接通与截止,尖峰电压很容易烧毁电源管和行管。
12、  行管型号不对或行管放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,如果测量方
法不当也会瞬间烧行管。
13
、  高压打火,也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,容易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致
行管负载变化异常造成行管烧毁。
行管是行输出电路中非常重要的元件. 对于屡烧行管的故障, 常常会令新手束手无策, 许多师傅也是凭经验维修, 对原理未作深入研究. 本文将侧重于理论分析, 对屡烧行管的故障检修进行探讨烧行管的根本原因不外乎有三种:
1. 过压, 行管C极行逆程脉冲过高, 大于行管的C-E反向击穿电压.
2. 过流, 指行输出管负载有短路故障, 造成行电流过大而损坏.
3. 功耗过大, 指行激励不足,不能使行管工作在饱和状态致其功耗增大而损坏.

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发表于 2013-6-25 21:13:00 | 显示全部楼层
好经验..谢谢分享
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发表于 2013-6-25 21:13:11 | 显示全部楼层
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发表于 2013-6-25 22:45:44 | 显示全部楼层
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